Monitoreo del contenido de argón en los materiales.

Abstract

Se reporta la posibilidad de monitorear de manera cuantitativa la presencia de argón en la capa superficial de los materiales utilizando la emisión fluorescente de los rayos-X característicos tipo K de argón producidos por irradiación de la superficie del material con rayos X de baja energía. La baja energía de estos rayos- X K, 2.97 keV, hace posible monitorear la presencia de este elemento hasta una profundidad de unos 5 micrones.